Messen mit LabVIEW

Messen mit LabVIEW
National Instruments LabVIEW
Externe Messgeräte (Instrumenten I/O)
M k
Messkarten
(DAQ)
DAQ Devices (Data Aquisition)
y Messkarten mit
y AI (Differentiell [DI] und Single-Ended [SI])
y AO
y DIO
y Timer, Counter
y …
y Formfaktor:
y (ISA)
y PCI
y PCIe
y PXI
y USB
y Kanalanzahl, Abtastrate, Auslösung, Genauigkeit, …
MAX
y Angeschlossene und simulierte Geräte
Testpanel
y Funktionstest
y Wertebereichstest
VI aus Vorlage
y Datenerfassung mit NI-DAQmx
DAQ Assistent
y Task konfigurieren
y Kanal wählen
DAQ Assistent
y Details konfigurieren
y Messbereich
y Schaltungsart
y Skalierung
y Abtastpunkte
y Abtastrate
y Triggerung
gge u g
y Test
VI fertig stellen
y Anzeige erstellen
y Verbindungen erzeugen
y Ausführen
A füh
Externe Geräte mit SCPI
y Vielzahl von Schnittstellen
y GPIB (IEEE 488)
y USB
y LAN
y USB-GPIB-Gateway
USB GPIB Gateway
y LAN-GPIB-Gateway
y Unterschiedliche Hersteller der Schnittstellen
y Agilent VISA (Virtual Instrument Software Architecture)
y NI VISA
y Ggf. Konfiguration an mehreren Stellen notwendig
Was ist eigentlich SCPI?
y Die Standard Commands for Programmable
g
Instruments ((SCPI)) sind ein
y
y
y
y
y
y
y
standardisierter Befehlssatz, der zur Steuerung und Programmierung von
Messgeräten verwendet wird.
Die Befehle werden oft als "skippy"-Befehle bezeichnet.
Die zugrundeliegende physikalische Kommunikationsschicht wird von SCPI
nicht vorgeschrieben.
Die Daten können über verschiedene Bussysteme
y
wie GPIB, RS232, USB, VXI
oder LXI übertragen werden.
Die SCPI-Befehle werden in Form von ASCII-Text übertragen und können mit
jeder Programmiersprache in jeder Entwicklungsumgebung generiert werden.
Seit 1992 standardisiert.
Alle hochwertigen Labormessgeräte lassen sich in dieser Form programmieren.
Beispiel
p Digitalmultimeter:
g
y Anfrage: „MEAS:VOLT:DC?“
y Rückgabe: Gleichspannungswert
Fall 1: Geräteschnitte von NI oder USB
y Konfiguration und Test im NI Measurement & Automation
Explorer (MAX)
y Verwendung
V
d
in
i LLabVIEW
bVIEW
Fall 1: Geräteschnitte von NI oder USB
y Scan for Instruments
y Communicate
Fall 2: Geräteschnittstelle von Agilent
y Konfiguration und Test im
Agilent Connection
Expert
y Test der Sichtbarkeit der
Geräte für NI mit VISA
O
Open
R
Report
Fall 2: Geräteschnittstelle von Agilent
y Überprüfung der
Sichtbarkeit mit NI
Measurement &
Automation
E l
Explorer
y Verwendung in
LabVIEW
Fall 2: Geräteschnittstelle von Agilent
y Test im MAX
VI für Instrumenten-I/O aus Vorlage
y Lesen und anzeigen
VI komplettieren
y Express VI „Assistent
Assistent zur Instrumenten I/O“
I/O
Konfiguration
y Gerät wählen
(über Adresse)
y Schritt hinzufügen
(Abfragen und
analysieren)
y Schritt ausführen
y Auto-Analyse
Auto Analyse
VI fertig stellen
y Ggf.
Ggf Signalverlaufsdiagramm durch Signalverlaufsgraphen
ersetzen
y Anzeigeformat der Numerischen Anzeige anpassen
y Verbindungen hinzufügen
y Ausführen
A füh
Programmierreferenz
y Existiert für jedes
Messgerät
y Enthält spezielle und
allgemeine Befehle
y Beispiel: Agilent
Digital Multimeter
DMM 34401A
y Muss im Praktikum
selbständig gelesen,
gelesen
verstanden und
angewendet
g
werden!