GBT Project Status - Indico

Relatório de Trabalho: atividades e análises
Diego Figueiredo
CERN, 2 de Julho de 2013
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Introdução
•
GBTX: testes de performance do Chip (~70%)
– Learner Card
• Entendendo o mapeamento dos pinos da máquina IC Tester;
• Programando em linguagem STIL, XML e Java a máquina IC Tester (enviando e recebendo
sinais). Uso comercial.
– GBTX-LTB
• Contém FPGA. Utilizada para serializar e deserializar sinais (IC Tester é mais lento que o
GBTX);
• Testes na LTB (FPGA foi programada com counter)
– Enviamos e recebemos sinais do Tester para a LTB.
– Interface de Configuração do GBTX (I2C)
• Desenvolvendo interface em Java entre o IC Tester e o GBTX para envio de dados on-line
aos registros do chip. Será utilizado para configurar o GBTX durante os testes.
– GBTX-ICT
• Placa com soquete do GBTX. Utilizada para comunicar o IC Tester com o chip
(configuração do chip).
•
Análises Difrativas (~30%)
– Produção Central de Di-jatos Exclusivos;
– Produção Inclusiva de Z Difrativo.
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Relatório: projeto chip GBTX
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IC-Tester Setup
GBTX-LTB
Learner Card
VHDL/Verilog
representation of the
ASIC
Test vectors generated
from the simulations
Create/load the test
vectors onto the IC
tester
IC Tester
Perform the test
Validade the
ASIC
performance
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GBTX TX/RX Test
Optical link
@ 4.8 Gb/s
GBTX-ICT
Conn. D
Conn. C
GBTX-LTB
Conn. B
Load board 2012
Sapphire IC Tester
Conn. A
@ 320 Mb/s
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GBTX TX/RX Test
GBTX Socket
GBTX LTB
GBTX ICT
IC Tester Loadboard
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Relatório: análises
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Análise Difrativa: Produção inclusiva de Z difrativo
https://twiki.cern.ch/twiki/bin/viewauth/CMS/DiffractiveZAnalysis
• Análise dos dados de 2010 RunA e RunB, canais de elétrons e múons.
– Software
• Informações de RECO e PAT de candidatos múons e elétrons. Isolamentos, variáveis
cinemáticas, variáveis difrativas e informações do CASTOR. Utilizando pacote PAT
FWD.
– Amostras
• Ntuples de múons criadas (dados e monte carlo).
– Status
• Resultados compatíveis com nota de análise do grupo de Electroweak (CMS EWK10-005) no canal de múons. Mesmos cortes aplicados.
• Processando amostras de elétrons (Julho).
– Planejamento
• Análise de Energy Flow para definir os gaps (Julho);
• Seleção difrativa “a La Hera” ou utilizando ηmax e ηmin e CASTOR (Julho/Agosto).
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Análise Difrativa: Produção Central de Di-jatos Exclusivos
https://twiki.cern.ch/twiki/bin/view/CMS/FwdPhysicsExclusiveDijetsAnalysis
•
Análise dos dados de 2010 RunB
– Software
• Macros de Análise foram atualizadas. Fatores de escala, pile-up reweight, correções do
trigger e das eficiências podem ser aplicados on-line. Utilizando pacote PAT FWD.
• Necessário Update em alguns métodos que estão repetidos em diferentes módulos.
– Status
• Amostras serão reprocessadas com nova variável: traços não associados aos jatos e
CASTOR tagged.
– Planejamento
• Refazer análise com novos cortes (Julho/Agosto);
• Estabelecer limites estatísticos nos excessos dos dados(Agosto/Setembro);
• Escrever AN (Julho/Agosto/Setembro).
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Backup Slides
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Learner Card I/O Loopback
Orange: programmed
Yellow: input
Blue: output
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GBTX-LTB I/O FPGA Loopback
Yellow: inputs
Blue: outputs
H5 appears
stuck at one
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GBTX-LTB 4-bit counter Test – Direct SE clock input
Yellow: inputs
Blue: outputs
Clock_in
Carry
Out [3:0]
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