Palestra Técnica na ABTS em São Paulo Prezadas leitoras

No.
07
01
PORTUGAL
10/09
FISCHER NEWSLETTER
Coating Thickness
Material Analysis
Microhardness
Material Testing
«editorial»
«observando com atenção»
Prezadas leitoras,
prezados leitores
Palestra Técnica na ABTS
em São Paulo
No ano que está findando investimos novamente
na proximidade ao cliente e na competência – na
Europa, na Ásia e na América do Sul. A nossa rede
de distribuição mundial foi ampliada com a abertura de duas novas filiais, em São Paulo / Brasil e
em Seul / Coréia do Sul, e com a mudança para
novas instalações em Milão / Itália e Barcelona / Espanha, ganhando assim força em competência,
em Assistência Técnica e em Vendas. Em outros
setores também procuramos estreitar o contato
com nossos clientes: p.ex., depois de uma ausência de anos, a FISCHER voltou a participar da Feira
BASELWORLD em 2012; foram realizados inúmeros seminários abordando o assunto «Medições»
e recursos foram injetados nos Laboratórios de
Aplicações, na forma de novos colaboradores etc.
Quanto ao conteúdo desta edição: a procura
mundial por valores duradouros levou o preço do
ouro a níveis bastante elevados. A firma FISCHER,
por meio dos aparelhos de fluorescência de
raios-X XAN® 220 oferece a solução ideal para a
medição do teor de ouro de maneira rápida, por
via não-destrutiva e, principalmente, de modo
confiável. Atualmente a precisão de medição
destes modelos atingiu um nível elevadíssimo. A
exatidão das medições é garantida com a ajuda
dos padrões de calibragem para ouro fabricados
pela própria Helmut Fischer. A respeito, leia o
artigo na última página é também o primeiro
artigo sobre a análise de traços de elementos
em materiais para bijuteria e acessórios de moda,
de modo simples e rápido.
Além dos aparelhos de medição, a firma Helmut
Fischer fabrica padrões de calibragem de alto
valor para a aferição dos mesmos. Com a sua
utilização, uma medição exata é garantida. Como
exemplo, apresentamos na página 3 os novos
padrões SnPb.
Entre em contato conosco apresentando sugestões e comentários a respeito de nossos artigos,
ou sugerindo uma tarefa de medição especial;
teremos o máximo prazer em atendê-lo com
competência.
Cordialmente
Walter Mittelholzer
Marcel Koch
CEO
Gerente de Marketing
Helmut Fischer Holding AG
Helmut Fischer AG
Helmut Fischer AG
No dia 27 de Novembro a Fischer do Brasil realizou uma palestra sobre Sistemas
de Medição e Controle de qualidade para Tratamentos de Superfície na sede da
Associação Brasileira de Tratamentos de Superfície – ABTS em São Paulo.
Com cerca de 80 participantes de diversos seguimentos da indústria e também de
ensino, a palestra técnica ministrada pelo Gerente Geral da Fischer do Brasil, Sr.
Leandro de Santis, abordou os conceitos básicos sobre os métodos, tecnologias e
aplicações existentes para medição e controle de tratamentos de superfície como:
Indução Magnética, Corrente Parasita, utilizados nos medidores clássicos portáteis,
e ainda métodos mais complexos como o Couloscópico e Fluorescência de Raios-X.
O evento que fora gratuito, teve como Responsabilidade Social solicitar a cada
participante a contribuição de alimentos que foram doados ao Lar Assistencial
Mãos Pequenas localizado em Diadema/SP.
Mesmo cobrindo apenas os conceitos básicos, os participantes mostraram muito interesse em se aprofundar nestes assuntos e com certa a Fischer do Brasil irá promover
em um futuro breve, novas palestras e seminários para atender esta demanda.
Fique ligado em nossa agenda de eventos !
«aplicação prática»
Análise de traços de elementos em materiais
para joias e bijuteria
Foto1: Joias e bijuteria estão em contato permanente com a pele humana e por isso o teor de matéria nociva naquelas deve ser limitado.
São levados a cabo esforços, a nível mundial, para limitar a concentração de certos elementos químicos em bens de consumo. Depois
que elementos como Chumbo, Mercúrio etc. foram «eliminados»,
agora deverão ser emitidas regulamentações similares também
para outros produtos. Serão afetados, por exemplo, joias e bijuterias, peças de relógios, acessórios metálicos em bolsas, carteiras ou
em peças de roupa. As forças impulsionadoras destas medidas são
tanto organizações governamentais, como p.ex. a americana CPSC,
como também grêmios específicos para certos setores como
Oeko-Tex®, uma organização que luta por produtos têxteis isentos
de elementos nocivos.
elemento
(traços)
matriz
desvio-padrão
[ppm]
Pb
ABS
Al
0.5
2
Pb
Cu
Zn
Sn
Latão, real
SnBi2, real
SnBi50, real
13
20
0.6
10 – 30
5 – 15
50 – 100
Deverão ser limitados diversos materiais nocivos orgânicos, assim
como metais pesados, em especial Pb, Cd e Ni. Os valores-limite
variam bastante de acordo com o país e com o setor industrial. Para
firmas com atuação no mercado global naturalmente são seguidos
os regulamentos mais severos, a nível mundial, para facilitar o
comércio. Isto significa, por exemplo, 100 ppm Cd e 90 ppm Pb,
no máximo.
Peças metálicas para bijuteria ou acessórios, por motivo de custo,
não são fabricadas de metais maciços. Os corpos básicos são fabricados de ligas mais baratas, muito bem trabalhados, e em seguida
revestidos com uma camada decorativa. Neste caso, tanto o
material da base como a camada devem estar isentos de Pb e Cd.
Porém, uma verificação individual desta isenção não é trivial. Os
materiais básicos como latão e ligas de zinco etc. são portanto analisados de maneira eficiente antes de sua conformação final e antes
do revestimento.
As análises em geral são efetuadas por Emissão Óptica ICP ou por
aparelhos de análise por fluorescência de raios-X (FRX). As vantagens dos dois métodos são bastante distintas e complementares.
Análises por EDXRF são muito eficientes e econômicas e a detectabilidade em geral é satisfatória (vide a Tabela 1).
Tabela 1: Valores típicos da precisão de repetibilidade dos valores individuais na
medição de traços de elementos (EDXRF). Os desvios-padrão são uma medida
direta para concentrações mínimas que ainda podem ser detectadas em um
material (limite de detectabilidade ~ 3 x desvio-padrão).
FISCHERSCOPE®
Para tarefas de medição por FRX tornam-se relevantes simples
considerações estatísiticas – uma análise deveria se basear sempre
em valores médios obtidos a partir de vários valores individuais.
No. 07
A tabela comprova que a detecção de traços de Chumbo em Alumínio é muito mais simples do que em material de solda SnBi
ou em latão. Qual é a razão para este fato, respectivamente como
se avalia a dificuldade em resolver uma tarefa de medição ? Em
princípio, elementos pesados (número atômico elevado) são mais
facilmente detectáveis em matrizes de materiais leves (número
atômico menor). A comprovação de Pb em plásticos, metais leves
ou também em materiais oxídicos é fácil por EDXRF. Porém, em
ligas de Fe, Cu, Zn esta comprovação é mais difícil. Para obter
resultados satisfatórios deve-se analisar a situação concreta no
espectro de fluorescência (as energias exatas das linhas individuais
de fluorescência, o comportamento na absorção/excitação
recíprocas). Limites de detectabilidade profundos são uma
premissa importante para a aplicabilidade do método.
Será necessário ainda analisar de maneira crítica a exatidão das
medições. Esta foi examinada em diversas tarefas de medição.
Figura 2: Correlação entre valores de concentrações de Pb medidas por FRX e
os valores teóricos certificados. A exatidão dos valores já é muito boa mesmo
antes da calibragem, o que é importante em um processo de medição confiável. Como a variação dos valores medidos em peças reais é maior do que sobre
os elementos puros será necessário trabalhar com valores médios obtidos de
diversas medições individuais (são mostrados valores médios a partir de dez
medições individuais, intervalos de confidência 95 %) .
Como exemplo serão mostrados alguns resultados da exigente
análise de ligas fundidas de ZnAl por meio dos aparelhos por FRX
FISCHERSCOPE XDV®-SDD (vide a figura 2). Os valores medidos,
mesmo sem calibragem, já são muito próximos dos valores
teóricos certificados. Os aparelhos FISCHER X-Ray são utilizados no
mundo todo para o Screening de materiais utilizados na fabricação
de joias, bijuteria e demais acessórios.
Dr. Daniel Sutter,
Helmut Fischer AG Schweiz
«observando com atenção»
Novos padrões de calibragem SnPb para a análise de
fluorescência por raios-X no setor de alta confiabilidade
A foto 1 mostra diversas placas de circuitos impressos com componentes. Os pontos de soldagem e os revestimentos dos grupos
eletrônicos podem ser medidos pelo FISCHERSCOPE® XDAL® .
O método da fluorescência de raios-X, por via não-destrutiva, é
bastante adequado para a medição da composição de ligas para
soldagem com Estanho e de revestimentos do mesmo material.
Especialmente a medição de Pb em ligas de estanho para solda-
No. 07
gens é uma aplicação importante e muito difundida dos aparelhos
FISCHERSCOPE® X-RAY. Por um lado a quantidade tolerável de Pb é
limitada por razões de saúde, por outro lado existem também
aplicações nas quais deve existir uma concentração mínima de Pb
FISCHERSCOPE®
no estanho para soldagem. A norma RoHS regula o emprego de
diversas substâncias nocivas, incluindo Pb em componentes eletrônicos, para que não venham a poluir o meio ambiente. Assim,
nos últimos anos estanhos para soldagem com teor de Pb foram
substituídos por ligas isentas de Pb, devendo ser comprovado que
o teor de Chumbo é menor do que o valor limite de 1000 ppm.
Igualmente, a recomendação Consumer Product Safety Improvement Act (CPSIA) regula o emprego de Pb e reduziu o limite no ano
de 2011 para 100 ppm.
dos fatores. Entre outros, têm influência o processo de fabricação,
p.ex. se a liga esfriou bruscamente ou lentamente, conformação
mecânica da superfície, armazenamento e envelhecimento das
amostras etc. A tabela 1 mostra imagens por dispersão refletiva de
elétrons MEV de diversas amostras SnPb com teor de Pb superior
a 3 %, assim como os resultados isentos de padrões. No caso
das «ilhas» claras trata-se da uma fase rica em Pb, a «matriz» cinza
escura é uma fase rica em Sn. Nota-se que estas «ilhas» podem
apresentar diferentes extensões e que estão dispersas mais ou
menos homogeneamente. O tamanho, respectivamente a falta
de homogeneidade também tem uma influência sobre as relações
de intensidades das linhas de fluorescência de raios-X. Na amostra
de referência homogênea o valor da FRX obtida sem calibragem
coincide muito bem com o valor teórico, de modo que o teor de Pb
pode ser verificado sem calibragem prévia. Porém, com o aumento
da falta de homogeneidade o desvio em relação ao valor teórico
aumenta (vide a tabela 1).
Porém, no âmbito aeronáutico ou na técnica médica (aplicações
de alta confiabilidade) são exigidas exclusivamente ligas de soldagem com teor de Pb. Nestes casos deve ser comprovado um teor
mínimo de 3 % Pb nas ligas utilizadas em soldagens. A razão para
tal é que o Estanho puro tende a formar Whiskers . Estes são cristais
de Sn em forma de agulha que se formam na superfície passado
um determinado tempo, podendo dar origem a curto-circuitos. A
determinação destes componentes é assim uma tarefa importante
e de alta responsabilidade, que em geral exige uma inspeção de
100 % dos componentes.
A literatura também descreve uma consequência do envelhecimento que pode se fazer notar em ligas SnPb com teor de Pb na
região de ppm. Assim, observou-se um incremento na concentração de Pb, após alguns anos, em amostras que foram armazenadas
erradamente (p.ex. em temperaturas muito altas); o Pb tinha se
acumulado na superfície. A superfície de uma amostra envelhecida
Com a ajuda da análise por FRX a composição das ligas de estanho
para soldagem é determinada de maneira rápida e não-destrutiva.
Por meio do Software WinFTM® também podem ser determinados
amostra de referência a
snPb3
snPb3
amostra
snPb8
amostra
arame eutético
snPb38
10 μm
10 μm
10 μm
50 μm
Valor teórico Pb %massa
3,1 (+/- 0,15)
3,0
8,5
38
Medido Pb %massa
3,0
2,8
7,5
33,6
Difusão relativa teórica, em %
3
6
12
12
sinh (sinh não homogêneo)
0,05
0,11
0,3
1,0
Dispersão
refletiva
de elétrons
MEV
Tabela 1: Medições em diversas ligas SnPb com o FISCHERSCOPE® XDAL® (50 kV, filtro Ni, 0.2 mm *0.2 mm diafragma, área 3 mm *3 mm com 64 pontos, tempo de
medição100 s, a não-homogeneidade sinh foi calculada de sinh2 = sges2 – swdh2).
a espessura da camada, e somente assim, a composição correta do
revestimento de SnPb sobre diferentes componentes eletrônicos
como placas condutoras, tomadas e contatos, BGAs ou resistências
SMD condensadores (foto 1). Durante a medição da composição
SnPb do revestimento de componentes SMD deve-se levar em
conta que Pb também pode ser encontrado em cerâmica ou
em camadas encobertas. Para estes casos existe um programa
especial que leva em conta tal possibilidade.
Sn e Pb formam uma liga eutética; sempre existem lado a lado uma
fase rica em Pb e outra fase rica em Sn. A solubilidade máxima de
Pb em Sn é de 2,5 % massa e aquela de Sn em Pb é de 19 %
massa. A composição real das fases e a homogeneidade, respectivamente a estrutura desta liga, dependem também dos mais varia-
FISCHERSCOPE®
deve por isso ser desbastada (lixada/polida) antes de se efetuar
uma nova medição. Nesta operação deve-se cuidar para que não
ocorra o aporte de material estranho na superfície da amostra. Esta
problemática mostra claramente como é importante que padrões
de referência SnPb sejam cuidadosamente preparados e também
verificados regularmente. A firma Helmut Fischer GmbH coloca
à disposição para as duas aplicações (RoHS e alta confiabilidade)
padrões de referência, em cuja fabricação foi dada grande ênfase
na homogeneidade do material.
Foi possível melhorar bastante a qualidade da liga SnPb com 3 %
Pb por meio de um novo processo produtivo, de modo que
mesmo utilizando aparelhos de FRX com ponto de medição
inferior a 50 μm (p.ex. o XDV®-μ com óptica policapilar) se obteve
No. 07
uma boa distribuição homogênea da fase rica em
Pb. A foto 2 mostra a imagem obtida por dispersão
refletiva de elétrons MEV da nova liga assim como
um Scan linear sobre a amostra, comparado com
material de referência SnPb3 usual, que é pouco
adequado para a microanálise. Os materiais de
referência da firma Fischer também são verificados
em intervalos de tempo regulares visando eliminar
possíveis efeitos do envelhecimento e para assegurar a sua elevada qualidade.
Dr. Simone Dill
A foto 2 mostra as imagens MEV assim como um Scan linear sobre o material de referência A da tabela
1 (acima) e o novo material SnPb (abaixo) ao longo de 1 mm de comprimento com o FISCHERSCOPE®
XDV®-µ (Policapilares com FWHM de aprox. 20 µm, 50 kV, filtro Al, 50 *25 s, precisão de repetibilidade
0,031%).
«observando com atenção»
PICODENTOR® HM500 com Microscópio de
Força Atômica (AFM): visualização e quantificação
de estruturas na região dos nanometros
Foto 2: Medições de dureza sobre uma placa de vidro BK7 com uma força
máxima de 5 mN. A profundidade permanente é inferior a 100 nm.
Nos últimos anos os requisitos quanto às propriedades das superfícies dos mais diversos materiais aumentaram bastante. Sistemas
de camadas altamente complexos foram desenvolvidos para criar
superfícies resistentes ao riscamento, repelentes de sujeira, antiestáticas, refletoras ou com poder de armazenamento.
Para caracterizar as propriedades mecânicas destas camadas, às
vezes muito delgadas, utiliza-se o ensaio de penetração instrumentado, que fornece valores característicos para a dureza ou
para a elasticidade destas camadas. Para tanto, necessita-se da
Foto 1: PICODENTOR® HM500 com Microscópio de Força Atômica.
No. 07
FISCHERSCOPE®
medição precisa do percurso (da ordem de nanometros) e a
geração de cargas de até poucos Micronewton. Além disto, para
medições em pequenas estruturas as amostras devem ser posicionadas com precisão. Visando obter informações adicionais sobre
o material, o PICODENTOR® HM500 pode ser fornecido, opcional-
topografia da superfície, que mostra o perfil das altitudes, o AFM
oferece ainda a possibilidade de se medir uma série de outras
grandezas. Além das medições de distância altamente precisas
graças ao eixo Z calibrado (com ruído de fundo < 0.05 nm) podem
ser bem representadas a fase e, especialmente, as impressões do
Foto 3: Medição com AFM (representação 3D) de uma impressão com
Foto 4: Impressão sobre Tungstênio (Fmax = 50 mN) com abaulamentos
força máxima de 5 mN (escala do eixo Z: 50 nm).
claramente visíveis.
mente, com um Microscópio de Força Atômica, AFM (foto 1).
A mesa XY programável com uma precisão de posicionamento
< 0,5 μm, o bloco de apoio antivibratório e a câmara de medição
fechada fornecem as condições básicas para medições com este
tipo de microscópio.
O «Microscópio de Força Atômica» engloba um grupo de
microscópios que dispõem de uma ponta de medição que, ao
contrário dos microscópios com luz, apalpa fisicamente a superfíce das amostras. Um braço articulado ( Cantilever) com uma
ponta minúscula de Silício varre a superfície medindo diferenças
de altitude; a superfície é escaneada em linhas e as altitudes são
medidas ponto a ponto, com elevada precisão. A resolução nos
sentidos XY é determinada pelo arredondamento da ponta de
medição, situando-se em geral na faixa de 10 nm. Os dados capturados podem ser representados de diversas maneiras: além da
Foto5: Recepão óptica da medição sobre Tungstênio (Fmax = 50 mN,
ampliação 100 x). Menos detalhes são perceptíveis.
penetrador obtidas sob cargas máximas diminutas. Foram efetuadas medições sobre uma placa de vidro BK7 com Fmáx = 5 mN
(foto 2), que resultaram em impressões permanentes de menos
de 50 nm.
A representação 3D torna visíveis detalhes que seriam invisíveis
sem a utilização do AFM (foto 5). Obtém-se assim , em determinados casos, uma interpretação mais precisa dos resultados das
medições. Dr. Tanja Haas,
Dr. Bernhard Nensel
FISCHERSCOPE®
No. 07
«aplicação prática»
Você conhece o estado de calibração correto
do seu aparelho medidor de espessuras?
aparelho mostra em seguida se o valor medido da camada coincide com o valor do padrão, dentro da incerteza de medição
pertinente, ou se uma calibragem é recomendada. Além de outras
informações, é mostrada a incerteza de medição apurada, representando o estado de calibragem momentâneo do sistema (vide a
foto 3). Esta incerteza do aparelho é uma componente necessária
se quisermos determinar a incerteza de medições posteriores.
Naturalmente, a incerteza do sistema de medição nunca poderá
ser menor do que aquela do padrão utilizado. Mesmo que um ajuste do aparelho seja necessário, o estado de calibragem somente
poderá ser melhorado no âmbito da incerteza do padrão de
calibragem. Desejando efetuar medições mais precisas será necessário utilizar um padrão com uma incerteza menor. A incerteza
determinada vale, de modo bastante estrito, somente na faixa de
espessuras próximas daquela do padrão utilizado.
Se forem esperadas medições de uma gama de espessuras maior,
então dever-se-ia utilizar 2 padrões de calibragem, que incluam
esta faixa de espessuras.
Foto 1: Sondas sempre devem ser bem calibradas.
Aparelhos de medição de espessuras são empregados em inúmeras tarefas. Tanto faz se forem medidas camadas galvanizadas
finas, pinturas automotivas ou grossas camadas de proteção anticorrosiva, em geral deseja-se medições com qualidade relevante,
que se prestam para uma comprovação ao cliente de que as tolerâncias especificadas foram obedecidas. Igualmente deve ser
possível a comparação entre os resultados fornecidos por dois
aparelhos diferentes, p.ex., as medições obtidas pelo fornecedor
das peças e pelo recebedor. É necessária assim a determinação da
incerteza de medição de acordo com a norma ISO/IEC Guide 98-3
como um primeiro passo na obtenção do estado de calibração da
sonda. Nem todo inspetor consegue efetuar estas determinações
corretamente e sem problemas.
Verificação da calibragem
Resultado
A calibragem
está OK!
Detalhes
Diferença
0.125 µm
Incerteza (k=2):
0.955 µm
Valor de teste E:
0.131
Repetir
Por isso os nossos aparelhos de medição fornecem ferramentas
simples e práticas para a realização desta tarefa. O estado de calibragem de uma sonda pode ser determinado com a ajuda de
padrões de referência, que normalmente são lâminas providas
de indicação da espessura e da incerteza de medição.
Como decorre agora a verificação? Depois de ativar a função «Verificação da calibragem» no menu «Calibragem» são inseridos os
valores da espessura e da incerteza de medição do padrão (vide
foto 2) e em seguida são efetuadas diversas medições. Pronto! O
Verificação da calibragem
incerteza
Por favor, informe o
tipo de incerteza!
Tolerância [µm]
tolerância relativa [%]
U(k=2) [µm]
Uncertainty =
OK
N o . 0 7 Foto 2: Exemplo da
indicação de um FMP100
µm
Delete
durante a verificação da
Foto 3: Resultado da
KAL
OK
verificação da calibragem.
A verificação da calibragem e um eventual ajuste deverão ser
efetuados utilizando a lâmina de calibragem sobre o mesmo
material de base, sem camada (características do material e geometria da peça). Desta maneira fatores com influência importante
nas medições seguintes são captados e levados em consideração
na incerteza, respectivamente minimizados no ajuste. Em caso
contrário estes fatores de erro adicionais deveriam ser determinados separadamente. Muitas vezes a incerteza pode ser reduzida
aumentando o número de medições, especialmente no caso de
materiais de base com superfície muito rugosa. A quantidade
de medições efetuadas é anotada automaticamente e levada em
conta no cálculo da incerteza.
Medições de espessura corretas, com qualidade, não são coisa do
diabo, mas podem causar problemas para muitos inspetores. O
meio auxiliar apresentado é uma solução praticável e simplifica
muito esta tarefa. calibragem. É mostrada
a inserção da incerteza
Dr. Hans-Peter Vollmar
da lâmina.
FISCHERSCOPE®
«aplicação prática»
A série de aparelhos XAN® com uma nova técnica e
com uma nova apresentação:
FISCHERSCOPE X-RAY XAN® 220 e XAN® 250
do para a análise de metais nobres, contendo as tarefas de medição típicas e uma calibragem de fábrica. A tabela acima (foto 3)
mostra o resultado de uma calibragem por meio de 12 padrões.
Vê-se o valor efetivo do padrão (jogo Au(%)) e o do Software WinFTM® sem calibragem, ou seja, o valor medido sem padrão (Au(%)
Teor.). Reconhece-se que já o valor medido sem padrão coincide
muito bem com o valor teórico e por isso a correção pela calibragem é mínima. É garantida assim uma precisão elevada mesmo
para ligas não abrangidas pela calibragem.
Foto 1: Os diversos, novos, modelos XAN® oferecem amplas possibilidade de
medição, desde medições de Ouro até análises mais complexas de metais com
muitos elementos.
Há 12 anos foi lançada a série de aparelhos FISCHERSCOPE X-RAY
XAN®. Os aparelhos de medição desta série foram concebidos
como sistemas de análise compactos e potentes e desde então
operam com sucesso no mercado. São empregados principalmente como aparelhos de laboratório universais por um lado; pelo
outro lado também resolvem tarefas especiais como a análise de
metais nobres ou de elementos nocivos.
A série que, desde o seu lançamento, sofreu poucas alterações
construtivas, foi agora renovada radicalmente e equipada com
diversas melhorias técnicas. Desta maneira o FISCHERSCOPE X-RAY
XAN® também irá corresponder, no futuro, às crescentes expectativas de nossos clientes.
Foto 3: Resultado da calibragem de um XAN® 220 por meio de 12 padrões.
Inovações Técnicas
Um incremento significativo de seu rendimento se deve ao Detetor de Deriva de Silício (SDD) com maior área ativa, empregado
agora nos modelos XAN® 220 e XAN® 250. Assim, pode-se operar
agora com uma taxa de contagem que é o dobro daquela existente
nos aparelhos XAN® antigos, o que corta pela metade o tempo de
medição mantendo a mesma precisão. Naturalmente todas as
outras vantagens do SDD foram mantidas, como a boa resolução
da energia, a possibilidade de se operar com altas taxas de contagem e a maior sensibilidade para energias baixas. Outras novidades facilitam o trabalho diário com o aparelho. Assim, uma câmera
USB para a observação do local da medição está incluida. Deixa de
ser utilizado assim o cartão Vídeo para a calculadora. Além disto,
todos os modelos estão equipados com um ventilador silencioso,
tornando mais agradável o trabalho na sala.
O XAN® 250
O XAN® 250, em comparação com o XAN® 220, está equipado com
6 filtros primários intercambiáveis, por meio dos quais a radiação
de excitação pode ser otimizada para diversas tarefas de medição.
Além disto dispõe-se de 4 diafragmas, de 0,2 a 2,0 mm de diâmetro, selecionáveis por meio de um motor. Desta maneira pode-se
analisar áreas de diversos tamanhos nas amostras. Com a ajuda do
XAN® 250 é possível resolver diferentes tarefas de medição como
a análise de ligas, a determinação do teor de elementos nocivos, a
medição de camadas metálicas até a região de nm ou a verificação
de elementos com número atômico baixo. É muito recomendado
como um aparelho de uso universal em laboratórios.
Dr. Bernhard Nensel
Foto 2: Medição com os novos aparelhos XAN®. No caso: simplesmente
colocar o objeto de Ouro e medir por
via não-destrutiva.
O XAN® 220
O XAN 220 foi especialmente
concebido para a análise de
ligas de metais nobres.
Possui um diafragma fixo com
1 mm de diâmetro (outros
diâmetros são opcionais) e
uma ampola de raios-X com
microfoco, ânodo de Tungstênio e filtro primário fixo. Cada
XAN® 220 é fornecido ajusta-
www.helmutfischer.com
FISCHERSCOPE®
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