Qualitätsmanagement

Qualitätsmanagement-Handbuch
3
Abteilung 7
Leistungsangebot (Services offered)
In der PTB-Abteilung 7 werden die im folgenden aufgeführten Leistungen angeboten.
In PTB Division 7, the services stated in the following are offered.
3.1
Prüfungen, Kalibrierungen
Tests, calibrations
(Ausstellung von PTB-Prüfscheinen bzw. PTB-Kalibrierscheinen)
(List of PTB test certificates and/or PTB calibration certificates)
Id-Nr.
Messgröße
Kalibrier-/
Prüfgegenstand
Bereich
Einheit
Messbedingungen
Erweiterte
Messunsicherheit
(k=2)
CMC-Eintrag
Id. No.
Measurand
Instrument or
Artifact to be
calibrated / tested
Range
Unit
Measurement
conditions
Expanded
measurement
uncertainty (k=2)
CMC entry
1
2
3
4
5
6
7
8
7.1-1.6
spektrale
Empfindlichkeit
Strahlungsempfänger
10-6 bis 10
A W-1
Photonenenergiebereich 1,75 keV bis
10 keV, Vakuum
10 % bis 0,36 %
nein
spectral
responsivity
radiation detector
10-6 to 10
A W-1
photon energy range
1.75 keV to 10 keV,
vacuum
10 % to 0.36%
no
spektraler
Reflexionsgrad,
spektraler
Transmissionsgrad
Spiegel , Filter
10-7 bis 1
1
Photonenenergiebereich 1,75 keV bis
10 keV, Vakuum
10 % bis 0,5 %
nein
spectral reflectivity,
spectral
transmittance
mirror, filter
10-7 to 1
1
photon energy range
1.75 keV to 10 keV,
vacuum
10 % to 0.5%
no
spektrale
Empfindlichkeit
Strahlungsempfänger
10-6 bis 10
A W-1
Photonenenergiebereich 8 keV bis
60 keV
10 % bis 0,5 %
nein
spectral
responsivity
radiation detector
10-6 to 10
A W-1
photon energy range
8 keV to 60 keV
10 % to 0.5%
no
Masse von
Spurenelementen
(als Oberflächenkontamination)
Si- und SiC-Wafer
≥ 7⋅10-14
(elementabhängige
untere Nachweisgrenze)
g
TotalreflexionsRöntgenfluoreszenzanalyse
50 % bis 30 %
nein
mass of trace
elements
(as surface
contamination)
Si and SiC wafer
≥ 7⋅10-14
(elementspecific lower
limit of
detection)
g
Total reflection X-ray
fluorescence analysis
50 % to 30 %
no
Schichtdicke
Dünne Schicht auf
spiegelnder
Oberfläche
2 to 1000
(materialabhängig)
nm
Röntgenreflektometrie
12 % bis 1 %
Ja (nur SiO2
auf Si)
layer thickness
Thin layer on
reflecting surface
2 to 1000
(depending
on material)
nm
X-ray reflectometry
12 % to 1 %
Yes (SiO2 on Si
only)
7.1-1.8
7.1-1.9
7.1-1.10
7.1-1.11
Ausgabe-Nr. :
08
erstellt durch:
Abteilung 7
QMV-7
am:
2010-02-01
Kapitel
3/3.1
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Qualitätsmanagement-Handbuch
Abteilung 7
Id-Nr.
Messgröße
Kalibrier-/
Prüfgegenstand
Bereich
Einheit
Messbedingungen
Erweiterte
Messunsicherheit
(k=2)
CMC-Eintrag
Id. No.
Measurand
Instrument or
Artifact to be
calibrated / tested
Range
Unit
Measurement
conditions
Expanded
measurement
uncertainty (k=2)
CMC entry
1
2
3
4
5
6
7
8
7.2-1.21
spektrale
Strahlstärke
Strahlungsquelle
10-6 bis 1
W nm-1 sr-1
bzw.
W nm-1 sr-1
mm-2
Wellenlängenbereich:
40 nm bis 400 nm
35 % bis 4,0 %
ja, für
Wellenlängenbereich 200 nm 350 nm
36 % bis 4,8 %
spektrale
Strahldichte
spectral radiant
intensity
radiation source
10-6 to 1
W nm-1 sr-1 or
W nm-1 sr-1
mm-2
wavelength range:
40 nm to 400 nm
spectral radiance
7.2-1.22
7.2-1.23
7.2-1.24
7.2-1.25
7.2-1.27
7.3-1.1
35 % to 4.0 %
yes, for
wavelength range
200 nm - 350 nm
36 % to 4.8 %
-4
spektrale
Empfindlichkeit
Strahlungsempfänger
10 bis 10
AW
spectral
responsivity
radiation detector
10-4 to 10
Spiegel , Filter
spektraler
Reflexionsgrad /
spektraler
Transmissions-grad
-1
Wellenlängenbereich:
40 nm bis 400 nm
0,5 % bis 2 %
nein
A W-1
wavelength range:
40 nm to 400 nm
0.5 % to 2%
no
10-4 bis 1
1
Wellenlängenbereich:
40 nm bis 400 nm
0,5 % bis 2 %
nein
spectral reflectivity / mirror, filter
spectral
transmittance
10-4 to 1
1
wavelength range:
40 nm to 400 nm
0.5 % to 2 %
no
Nachweiswahrscheinlichkeit für
Photonen
Energie-dispersive
Strahlungsempfänger
10-3 bis 1
1
Photonenenergiebereich 1 keV bis
20 keV, Vakuum
5 % bis 1 %
nein
detection
probability for
photons
energy-dispersive
radiation detectors
10-3 to 1
1
photon energy range
1 keV to 20 keV,
vacuum
5 % to 1 %
no
spektrale
Empfindlichkeit
Strahlungsempfänger
10-6 bis 10
A W-1
Wellenlängenbereich:
0,8 nm bis 25 nm,
Vakuum
10 % bis 0,5 %
nein
spectral
responsivity
radiation detector
10-6 to 10
A W-1
wavelength range:
0.8 nm to 25 nm,
vacuum
10 % to 0.5 %
no
spektraler
Reflexionsgrad,
spektraler
Transmissionsgrad
Spiegel, Filter
10-6 bis 1
1
Wellenlängenbereich:
0,7 nm bis 34 nm,
Vakuum
10 % bis 0,28 %
Ja, Reflexionsgrad für
Wellenlängenbereich 10 nm
bis 30 nm
spectral reflectivity,
spectral
transmittance
mirror, filter
10-6 to 1
1
wavelength range:
0.7 nm to 34 nm,
vacuum
10 % to 0.28 %
yes,reflectance
for wavelength
range 10 nm to
30 nm
Temperatur
Strahlungsthermometer,
Wolframbandlampe
Thermografiegerät,
Hohlraumstrahler
800 bis 3000
°C
0,28 K bis 1,5 K
ja, aber nur der
Bereich 960 °C
bis 2900 °C
Radiation
thermometer,
tungsten strip lamp,
thermographic
instruments, cavity
radiator
800 to 3000
temperature
Ausgabe-Nr. :
08
erstellt durch:
Abteilung 7
QMV-7
am Fixpunkt 50 mK
°C
0.28 K to 1.5 K
at the fixed-point
50 mK
am:
2010-02-01
Kapitel
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yes, but only
the range from
960 °C up to
2900 °C
Qualitätsmanagement-Handbuch
Abteilung 7
Id-Nr.
Messgröße
Kalibrier-/
Prüfgegenstand
Bereich
Einheit
Messbedingungen
Erweiterte
Messunsicherheit
(k=2)
CMC-Eintrag
Id. No.
Measurand
Instrument or
Artifact to be
calibrated / tested
Range
Unit
Measurement
conditions
Expanded
measurement
uncertainty (k=2)
CMC entry
1
2
3
4
5
6
7
8
7.3-1.2
Temperatur
Strahlungsthermometer,
Thermografiegerät,
Hohlraumstrahler
- 60 bis 962
°C
0,03 K bis 0,6 K
nein
temperature
Radiation
thermometer,
thermographic
instruments, cavity
radiator
- 60 to 962
°C
0.03 K to 0.6 K
no
spektrale
Strahldichte
Normal der
spektralen
Strahldichte
4·106 bis
4·1011
W m-3 sr—1
Wellenlänge 220 nm
bis 2500 nm,
Bandbreite < 2 nm
4 % bis 0,4 %
ja, aber mit
größerer
Unsicherheit,
neue CMCEinträge
beantragt
spectral radiance
standard of spectral 4·106 to
4·1011
radiance
W m-3 sr-1
wavelength from
220 nm to 2500 nm,
bandwidth < 2 nm
4 % to 0.4 %
yes, but with
larger
uncertainty,
new CMC
entries applied
Spektraler
Emissionsgrad
Materialproben
0,01 bis 1
1
Wellenlängenbereich
4 µm bis 40 µm,
Temperaturbereich
80 °C bis 430 °C
1 % bis 10 %
nein
spectral emissivtiy
material samples
0.01 to 1
1
wavelength range from
4 µm to 40 µm,
temperature range from
80 °C to 430 °C
1 % to 10 %
no
spektrale
Empfindlichkeit
Halbleiterdetektoren
0,001 bis 10
A/W
Vergleich mit
Kryoradiometer an 27
Laserwellenlängen
(238 nm bis 1550 nm)
0,02 % bis 0,2 %
nein
spectral
responsivity
semiconductor
detectors
0.001 to 10
A/W
comparison with
cryogenic radiometer at
27 laser wavelengths
(238 nm to 1550 nm)
0.02 % to 0.2 %
no
spektrale
Empfindlichkeit
Si-p-n-Trapdetektoren
0,001 bis 10
A/W
Interpolation im Bereich 0,02 % bis 0,1 %
400 nm bis 1015 nm
spectral
responsivity
Si-p-n trap
detectors
0.001 to 10
A/W
interpolation in the
range from 400 nm to
1015 nm
0.02 % to 0.1 %
yes
spektrale
Empfindlichkeit
Halbleiterdetektoren
0,001 bis 10
A/W
Vergleich mit
Kryoradiometer im
Bereich 950 nm bis
2000 nm
0,06 % bis 5 %
ja im Bereich
950 nm bis
1600 nm, aber mit
größerer
Unsicherheit, da
CCPR-K2.a noch
nicht abgeschlossen
spectral
responsivity
semiconductor
detectors
0.001 to 10
A/W
comparison with
cryogenic radiometer in
the range from 950 nm
to 2000 nm
0.06 % to 5 %
yes, in the range
from 950 nm to
1600 nm, but with
larger uncertainty,
as CCPR-K2.a has
not yet been
concluded
7.3-1.3
7.3-1.11
7.3-1.21
7.3-1.22
7.3-1.23
Ausgabe-Nr. :
08
erstellt durch:
Abteilung 7
QMV-7
am:
2010-02-01
Kapitel
3/3.1
Seite von Seiten
3 von 6
ja
Qualitätsmanagement-Handbuch
Abteilung 7
Id-Nr.
Messgröße
Kalibrier-/
Prüfgegenstand
Bereich
Einheit
Messbedingungen
Erweiterte
Messunsicherheit
(k=2)
CMC-Eintrag
Id. No.
Measurand
Instrument or
Artifact to be
calibrated / tested
Range
Unit
Measurement
conditions
Expanded
measurement
uncertainty (k=2)
CMC entry
1
2
3
4
5
6
7
8
7.3-1.24
spektrale
Empfindlichkeit
Halbleiterdetektoren
0,001 bis 10
A/W
Vergleich mit
Kryoradiometer im
Bereich 200 nm bis
400 nm
0,2 % bis 2 %
ja, aber mit
größerer
Unsicherheit, da
CCPR-K2.c noch
nicht abgeschlossen
spectral
responsivity
semiconductor
detectors
0.001 to 10
A/W
comparison with
cryogenic radiometer in
the range from 200 nm
to 400 nm
0.2 % to 2 %
yes, but with
larger
uncertainty, as
CCPR-K2.a has
not yet been
concluded
spektrale
Empfindlichkeit
photoelektrische
oder
thermoelektrische
Strahlungsempfänger
A/W oder
V/W oder
Anzeigewert/W
Vergleich mit
Transfernormalen im
Bereich 200 nm bis
1,8 µm
0,04 % bis 3 %
von 200 nm bis
1600 nm: ja, aber
mit größerer
Unsicherheit, da
CCPR-K2.a, und
K2.c noch nicht
abgeschlossen.
spectral
responsivity
Photoelectric or
thermoelectric
radiation detectors
A/W or
V/W or
Display
value/W
comparison with
transfer standards in
the range from 200 nm
to 1.8 µm
0.04 % to 3%
from 200 nm to
1600 nm: yes, but
with larger
uncertainty, as
CCPR-K2.a and
K2.c have not yet
been conclude.
Ortsabhängige
Messung der
relativen spektralen
Empfindlichkeit
Strahlungsempfänger
10-3 bis 10
1
Wellenlängen:
256,7 nm
und 366,25 nm,
Ortsauflösung:
≥ 0,25 mm
0,05 %
nein
position-dependent
measurement of
the relative spectral
responsivity
radiation detector
10-3 to 10
1
0.05 %
no
spektrale
Empfindlichkeit
THzStrahlungsleistungsmessgeräte
0,001 bis 10
W/W
17 %
nein
spectral
responsivity
THz-radiometer
0.001 to 10
W/W
17 %
no
Temperatur
SPRT (long-stem)
an Fixpunkten
-189 bis 962
°C
wavelengths: 256.7 nm
and 366.25 nm,
spatial resolution:
≥ 0,25 mm
Vergleich mit
Transfernormal bei
2,52 THz
Comparison with
transfer standards at
2.52 THz
Thermostat /
3-Zonenofen
0,1 mK bis 3 mK
ja
temperature
SPRT (long stem)
on fixed points
-189 to 962
°C
thermostat /
3-zone furnace
0.1 mK to 3 mK
yes
Temperatur
Fixpunktzelle für
SPRTs (long-stem)
-189 bis 962
°C
Thermostat /
3-Zonenofen
0,07 mK bis 3 mK
ja, bis auf Ag
temperature
fixed point cell for
SPRTs (long stem)
-189 to 962
°C
thermostat /
3-zone furnace
0.07 mK to 3 mK
yes, except Ag
Temperatur
CSPRT an
Fixpunkten
14 bis 273
K
Isothermer Kryostat
0,3 mK bis 0,4 mK
ja
temperature
CSPRT on fixed
points
14 to 273
K
isothermal cryostat
0.3 mK to 0.4 mK
yes
Temperatur
Fixpunktzelle für
CSPRTs
14 bis 273
K
Isothermer Kryostat
0,3 mK bis 0,4 mK
ja
temperature
fixed point cell for
CSPRTs
14 to 273
K
isothermal cryostat
0.3 mK to 0.4 mK
yes
Ausgabe-Nr. :
08
erstellt durch:
Abteilung 7
QMV-7
7.3-1.25
7.3-1.26
7.3-1.27
7.4-1.1
7.4-1.2
7.4-1.3
7.4-1.4
am:
2010-02-01
Kapitel
3/3.1
Seite von Seiten
4 von 6
Qualitätsmanagement-Handbuch
Abteilung 7
Id-Nr.
Messgröße
Kalibrier-/
Prüfgegenstand
Bereich
Einheit
Messbedingungen
Erweiterte
Messunsicherheit
(k=2)
CMC-Eintrag
Id. No.
Measurand
Instrument or
Artifact to be
calibrated / tested
Range
Unit
Measurement
conditions
Expanded
measurement
uncertainty (k=2)
CMC entry
1
2
3
4
5
6
7
8
7.4-1.5
Temperatur
Kapselthermometer, ITS-90
0,65 bis 303
K
Isothermer Kryostat
0,3 mK bis 1,5 mK
ja, aber z. Zt.
noch von CCTWG8
begutachtet
temperature
encapsulated
thermometer, ITS90
0.65 to 303
K
isothermal cryostat
0.3 mK to 1.5 mK
yes, but
presently under
review by CCT
WG8
Temperatur
Kapselthermometer, PLTS-2000
0,05 bis 1
K
Isothermer Kryostat
0,36 mK
ja
temperature
encapsulated
thermometer,
PLTS-2000
0.05 to 1
K
isothermal cryostat
0.36 mK
yes
Temperatur
TemperaturReferenzproben
0,015 bis 10
K
Isothermer Kryostat
0,1 mK bis 1 mK
ja, aber z. Zt.
noch von CCTWG8
begutachtet
temperature
temperature
reference sample
0.015 to 10
K
isothermal cryostat
0.1 mK to 1 mK
yes, but
present under
review by CCT
WG8
Temperatur
EdelmetallThermoelement
0 bis 1600
°C
Hochtemperaturofen
0,05 K bis 1,5 K
ja, bis auf
Au/Pt-TE
temperature
noble metal
thermocouple
0 to 1600
°C
high-temperature
furnace
0.05 K to 1.5 K
yes, except
Au/Pt-TC
Temperatur
FlüssigkeitsGlasthermometer
-58 bis 600
°C
Gerührtes
Flüssigkeitsbad
5 mK bis 500 mK
ja
temperature
liquid-in-glass
thermometer
-58 to 600
°C
stirred thermostated
bath
5 mK to 500 mK
yes
Temperatur
Direktanzeigendes
Thermometer und
Widerstandsthermo
meter
-75 bis 600
°C
Gerührtes
Flüssigkeitsbad
4 mK bis 15 mK
ja
temperature
direct reading
thermometer and
resistance
thermometer
-75 to 600
°C
stirred thermostated
bath
4 mK to 15 mK
yes
Druck
Kapazitätsvakuummeter
10-2 bis 105
Pa
20 °C bis 25 °C, He,
Ne, N2, Ar, Kr, Xe
0,40 % bis 0,040 %
ja
pressure
capacitance
diaphragm gauge
10-2 to 105
Pa
20 °C bis 25 °C, He,
Ne, N2, Ar, Kr, Xe
0.40 % to 0.040 %
yes
Druck
Gasreibungsvakuummeter
10-4 bis 1
Pa
20 °C bis 25 °C, He, N 2, 4,9 % bis 0,26 %
Ar
ja
pressure
spinning rotor
vacuum gauge
10-4 to 1
Pa
20 °C bis 25 °C, He, N 2, 4.9 % to 0.26%
Ar
yes
Druck
Ionisationsvakuummeter
10-9 bis 10-2
Pa
20 °C bis 25 °C, Ne, N 2, 10 % bis 0,66 %
Ar, Kr, Xe
ja
pressure
ionisation vacuum
gauge
10-9 to 10-2
Pa
20 °C bis 25 °C, Ne, N 2, 10 % to 0.66%
Ar, Kr, Xe
yes
Druck
sonstiges
Vakuummeter
10-9 bis 105
Pa
20 °C bis 25 °C, nicht
kondensierendes Gas
10 % bis 0,0054 %
ja
pressure
other vacuum
gauge
10-9 to 105
Pa
20 °C bis 25 °C, non
condensing gas
10 % to 0.0054%
yes
7.4-1.6
7.4-1.7
7.4-1.8
7.4-1.9
7.4-1.10
7.5-1.4
7.5-1.5
7.5-1.6
7.5-1.7
Ausgabe-Nr. :
08
erstellt durch:
Abteilung 7
QMV-7
am:
2010-02-01
Kapitel
3/3.1
Seite von Seiten
5 von 6
Qualitätsmanagement-Handbuch
Abteilung 7
Id-Nr.
Messgröße
Kalibrier-/
Prüfgegenstand
Bereich
Einheit
Messbedingungen
Erweiterte
Messunsicherheit
(k=2)
CMC-Eintrag
Id. No.
Measurand
Instrument or
Artifact to be
calibrated / tested
Range
Unit
Measurement
conditions
Expanded
measurement
uncertainty (k=2)
CMC entry
1
2
3
4
5
6
7
8
7.5-1.8
Stoffmengendurchfluss
Testleck
2·10-15 bis
4·10-8
mol/s
gegen Vakuum, 18 °C
bis 40 °C
8,5 % bis 0,7 %
nein
flowrate of amount
of substance
artefact
2·10-15 to
4·10-8
mol/s
against vacuum, 18 °C
to 40 °C
8.5% to 0.7 %
no
Stoffmengendurchfluss
Testleck
4·10-11 bis
4·10-9
mol/s
gegen Atmosphäre,
18 °C bis 30 °C
2% bis 0,33 %
nein
flowrate of amount
of substance
artefact
4·10-11 to
4·10-9
mol/s
against atmosphere,
18 °C to 30 °C
2% to 0.33 %
no
Saugvermögen
Turbomolekularpumpe
25 bis 2000
l/s
ISO 21360 und 5302
5%
nein
volume flow
(pumping speed)
turbomolecular
pump
25 to 2000
l/s
ISO 21360 and 5302
5%
no
Volumen,
Volumenstrom
3 bis 1000
Volumengeber,
Durchflusssensoren
m³/h
3 °C bis 90 °C
4 ⋅ 10-4
ja, teilweise
von 3 m3 bis
180 m3/h
volume, volume
flow
volume transmitter,
flowrate sensors
m³/h
3 °C to 90 °C
4 ⋅ 10-4
yes, partly
to the range
from 3 m3 to
180 m3/h
Volumen,
Volumenstrom
Volumengeber,
0,006 bis 4
Durchflusssensoren
m³/h
20 °C bis 80 °C
3 ⋅ 10-3
ja, teilweise
von 0.01 m3/h
bis 4 m3/h
volume, volume
flow
volume transmitter,
flowrate sensors
0.006 to 4
m³/h
20 °C to 80 °C
3 ⋅ 10-3
yes, partly to
the range from
0.01 m3/h to
4 m3/h
Simulierte
thermische
Leistung, Energie
WärmezählerRechenwerke
0,014 bis
236000
W
0 °C bis 200 °C,
3 K bis 200 K
0,006 m³/h bis 1000
m³/h
3 ⋅ 10-3
nein
simulated thermal
power, energy
heat meter
computing
mechanisms
0.014 to
236000
W
0 °C to 200 °C,
3 K to 200 K
0.006 m³/h to 1000
m³/h
3 ⋅ 10-3
no
Elektrische
Spannung
Normalelemente
im Dewargefäß
1,018 …
V
20 °C
5 ⋅ 10-6
Ja
electrical voltage
standard cells
in Dewar vessel
1.018 …
V
20 °C
5 ⋅ 10-6
yes
7.5-1.9
7.5-1.10
7.6-1.1
7.6-1.2
7.6-1.3
7.6-1.6
Ausgabe-Nr. :
08
erstellt durch:
Abteilung 7
QMV-7
3 to 1000
am:
2010-02-01
Kapitel
3/3.1
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