PARTICIPAÇÃO FIMAQH 2014 Prezadas leitoras, prezados leitores

No.
10
01
BRASIL
10/09
FISCHER NEWSLETTER
Coating Thickness
Material Analysis
Microhardness
Material Testing
«editorial»
«observando com atenção»
Prezadas leitoras,
prezados leitores
PARTICIPAÇÃO FIMAQH 2014
É com grande prazer que lhes encaminhamos a mais recente edição do nosso
FISCHERSCOPE Newsletter.
O grupo Helmut Fischer continua a investir
no futuro e efetua importantes passos na
ampliação de sua rede mundial de distribuição. Com base em Bangkok, a metrópole da Tailândia, a empresa passa a
abranger este importante mercado, desde
Janeiro de 2014, através de uma filial própria. Neste ano ainda será aberto em Dubai um escritório regional Fischer, continuando assim a investir na proximidade ao
cliente, na Assistência Técnica e na infraestrutura.
Esta edição do FISCHERSCOPE tem como
objetivo principal a medição da Qualidade
no campo da miniaturização progressiva.
Na medição da microdureza de camadas
cada vez mais delgadas, as imagens das
impressões somente podem ser visualizadas com a ajuda de um microscópio de força atômica (AFM).
Um outro artigo aborda uma nova característica do Software WinFTM. Este Software
permite o posicionamento seguro por
meio do reconhecimento de imagens na
medição automática em filetes soldados
em placas de circuitos impressos. Economiza-se assim tempo e dinheiro.
Não hesite em nos contatar. Nós lhe prestaremos todo o suporte para a solução
dos seus problemas de medição.
Bom divertimento na leitura!
Cordialmente
Walter Mittelholzer
Christoph
Leandro Santis
Hüsler
CEO
Leiter Verkauf
Gerente
Geral
Helmut Fischer Holding AG
Helmut Do
Fischer
Fischer
BrasilAG
Helmut Fischer AG
Entre os dias 6 á 10 de maio de 2014, Buenos Aires foi cenário de uma nova edição
da FIMAQH, a Feira Internacional Industrial mais importante realizada na Argentina. Esta nova edição aconteceu no Parque del Bicentenario (Villa Marteli - Pcia.
de Buenos Aires).
FIMAQH reúne a cada dois anos a mais ampla oferta tecnológica do mundo.
FIMAQH é tecnologia e conhecimento aplicado em ação.
FIMAQH oferece as últimas
novidades em tecnologias
aplicadas a automação,
eletro-erosão, técnicas de
controle, CAD/CAM/CAE,
embalagens e robótica.
Também em inovações de
remoção de material, deformação, ferramentas de
precisão, acessórios hidráulicos, eletroeletrônicos e metrologia, incluindo os mais modernos conceitos de qualidade, sensores,
diagnósticos e equipamentos periféricos e seus serviços.
Milhares de máquinas em funcionamento geram um cenário inigualável para o
intercâmbio entre os principais atuantes do setor, o melhor ponto de encontro
de negócios e conhecimento.
Vaccaro Hnos. S.A. representante da Helmut Fischer na Argentina a mais de 30 anos
participa regularmente desta exibição e apresentou os produtos de última geração
e tecnologia da Helmut Fischer.
Este ano contamos com a
participação e suporte
em nosso stand de André
Oliveira, Executivo de
Vendas da Fischer do
Brasil.
Esta exposição sempre
nos gerou bons negócios
e nesta edição não fora
diferente, somando a
quantidade de contatos
com clientes novos e antigos, esperamos ter sucesso em gerar uma comunicação direta entre os usuários que nos enriquecem e fizeram deste evento um
grande êxito.
Agradecemos a colaboração de André Oliveira e Leandro Santis Gerente Geral da
Fischer do Brasil e esperamos seguir contando com seu apoio e suporte para o
desenvolvimento do mercado Argentino.
«aplicação prática»
Nova característica do Software WinFTM®:
Reconhecimento de imagens na RFA/AFR
O método da fluorescência de raios-X é um método de medição
que, em geral, não necessita de um preparo preliminar sofisticado
para a amostra. Em geral, basta posicioná-la dentro do feixe de
radiação. Porém, quando o objeto a ser inspecionado apresentar
a mesma dimensão como aquela do ponto de medição, um
posicionamento preciso torna-se difícil. Tal fato acontece na
determinação da espessura da camadas sobre contatos em placas
de circuitos impressos. O comprovado Software WinFTM®, a partir
de sua versão V 6.30, oferece aqui uma opção muito prática: o
reconhecimento de imagens.
A Figura 1 mostra um detalhe de uma placa deste tipo. A marcação
retangular assinala o setor da imagem que deverá ser encontrado
novamente pelo reconhecimento de imagens; a cruz dentro da
marcação define o ponto de medição desejado.
O desenrolar do reconhecimento de imagens acha-se representado na Figura 2. À esquerda tem-se a posição da amostra antes do
reconhecimento de imagens, à direita após o mesmo. A posição
de medição definida na Figura 1 foi localizada. A medição segura
da espessura pode ser agora processada, ainda que o posicionamento efetuado manualmente se encontrasse ao lado do contato.
Na Figura 3 tem-se uma outra placa de circuito impresso. Um total
de 20 componentes nela localizados deverão ser acessados
sequencialmente, de modo automático, devendo-se medir, em
posições pré-definidas, a espessura da camada nos contatos. A
Figura 4 mostra uma placa deste tipo contendo os pontos de
contato a serem medidos, marcados com um X em vermelho.
Geralmente as placas de circuitos impressos são colocadas manualmente dentro do aparelho de fluorescência de raios-X de tal
modo que uma de suas arestas encoste em um canto fixo da mesa.
Figura 3: Placa de circuito impresso posicionada em um aparelho XDV®-µ.
Os 20 componentes (16 são visíveis) deverão ser medidos sequencialmente
com a ajuda do reconhecimento de imagens.
Neste caso, somam-se erros no posicionamento com aqueles derivados das tolerâncias de fabricação nos bordos, de modo que as
posições dos locais de medição podem oscilar de vários décimos
de mm. Uma variação deste montante já se situa na ordem da
grandeza dos contatos. Esta tarefa combina a opção da programação de coordenadas XY, já existente em versões anteriores do
WinFTM®, e que são acessadas sequencialmente, de modo automático, pelo Software, com o reconhecimento de imagens. Para
tanto define-se, para cada ponto de medição, qual é o aspecto do
objeto a ser medido.
Figura1: Definições do setor da
imagem e da posição de medição
para o posterior reconhecimento
da imagem.
Figura4: Vista em detalhe de um componente de uma placa de circuito.
Os contatos a serem medidos acham-se marcados com um X, em vermelho.
Figura 2: Sequência do reconhecimento de imagens. À esquerda: posição antes
do reconhecimento; à direita: após o reconhecimento.
Porém, o reconhecimento de imagens não é útil somente para
objetos de grande porte, como placas de circuitos impressos.
Principalmente objetos com dimensões reduzidas são difíceis de
serem posicionados corretamente. Por exemplo, componentes
SMD (Surface Mounted Device) possuem dimensões de poucos
FISCHERSCOPE®
N o . 10
100 µm e são revestidos nas
arestas com Estanho. A espessura desta camada de Estanho
pode ser determinada, entre
outros, posicionando e medindo os componentes, conforme
mostra a Figura 5, na mesa de
um aparelho de medição dotado de um reticulado.
Estes componentes, ao contrário do que ocorre nas placas de
circuitos impressos, podem estar orientados de modo diverso, fato
que a rotina do reconhecimento de imagens deverá levar em
consideração. Também é possível definir mais de um ponto de
Figura 5: Componentes SMD.
medição em cada componente, como por exemplo um ponto de
medição em cada aresta revestida, ou então um ponto de medição
em cada canto do componente.
Esta nova função do reconhecimento de imagens com o WinFTM®
é de grande valia para todo usuário dos aparelhos FISCHERSCOPE®
RFA, quando se tratar do posicionamento automático de objetos
pequenos a serem medidos.
Para visualizar Videos que demonstram a função do reconhecimento de imagens, visite o site de nossa empresa
www.helmut-fischer.de/bilderkennung
Dr. Jens Kessler
«olhando com atenção»
Precisão e diversidade – Padrões de calibragem
fabricados sob medida para aplicações que
utilizam a técnica RFA/AFR
acreditado – uma vantagem de valor inestimável tanto para a
Gerência da Qualidade como para o cliente final.
A fabricação de padrões de calibragem individuais exige a superação de vários desafios. Os novos materiais exigem não somente
a aplicação de técnicas atuais (o estado da arte), como também
geram dúvidas complexas que os especialistas do Laboratório de
Calibragem deverão responder.
Figura1: Componentes SMD sobre uma placa de circuito impresso.
A Garantia da Qualidade e um controle de processo otimizado
assumem um papel cada vez mais importante durante as etapas
de fabricação. Disso decorre a necessidade de se poder efetuar
medições confiáveis que atendam às elevadas exigências de um
Sistema de Qualidade Certificado. Um método de medição bastante universalizado é o da análise da energia dispersiva por fluorescência de raios-X. Esta possibilita a medição da espessura de
revestimentos e da composição do material em uma ampla série
de aplicações, mas depende com frequência de materiais de referência. A imensurável amplitude destas aplicações industriais e os
ciclos de inovação cada vez mais breves geram desafios especiais
para a disponibilização de padrões de referência adequados.
Os laboratórios-padrão, acreditados conforme a norma DIN EN
ISO/IEC 17025, das empresas Helmut Fischer GmbH Institut für
Elektronik und Messtechnik e Helmut Fischer Technologie AG
fabricam estes padrões de calibragem. O programa padrão, com
mais de 300 padrões de calibragem, já abrange inúmeras aplicações para os mais diversos setores industriais. Graças à vasta experiência acumulada pelo Laboratório de Calibragem FISCHER,
podemos ainda oferecer aos nossos clientes um serviço especial,
único, de certificar os seus produtos de acordo com um método
N o . 1 0 Aqui incluem-se, entre outros, materiais heterogêneos como por
exemplo padrões de calibragem em SMD (Surface-Mounted Device) (Figura 1). Uma de suas principais vantagens – a miniaturização
– é, ao mesmo tempo, também o seu maior desafio. A fim de
assegurar a soldabilidade e o funcionamento correto, durante o
processo de fabricação as espessuras das camadas nas faces de
contato – constituidas de camadas de Estanho e de Níquel com
poucos µm de espessura sobre uma pasta de Prata – deverão ser
medidas. Para a técnica RFA este é um desempenho excepcional se
considerarmos que a largura do objeto é de apenas 125 µm, que
somente foi alcançado a nível mundial há poucos meses, empregando uma óptica de raios-X capilar e uma mesa XY de alta precisão de um aparelho da série FISCHERSCOPE®-XDV®-µ. Para a
fabricação de padrões de calibragem certificados são ainda
decisivas a homogeneidade e a geometria das camadas.
Uma amostra metalográfica preparada (Figura 2) exemplifica um
desafio excepcional no caso de componentes SMD. A pasta de
Figura 2: Amostra metalográfica de componentes
SMD vista no microscópio.
Nota-se claramente o revestimento nas faces laterais
assim como a estrutura
porosa da pasta de Prata
sobre a cerâmica.
FISCHERSCOPE®
Prata porosa, de forma abaulada, e o substrato cerâmico dificultam
um referenciamento seguro da camada sobreposta.
Figura 3: Estrutura
das camadas em um
corte FIB. Sequência
Através de análises por RFA, baseadas em parâmetros fundamentais, e com a utilização de um microscópio com feixe de íons focalizado (Figura 3) foi possível medir com segurança as espessuras
das camadas. O revestimento parcial nas arestas laterais, que
poderia ter uma influência negativa na medição da espessura na
face frontal do componente, foi levado em consideração por meio
de um projeto especial para o suporte da amostra. Desta maneira
tornou-se possível a fabricação de padrões de calibragem a partir
de componentes típicos, resultando assim um controle de processo em conformidade com o Gerenciamento da Qualidade.
A competência do Laboratório de Calibragem FISCHER possibilitou
a fabricação de uma ampla gama de padrões de calibragem com
base em materiais fornecidos pelos clientes – iniciando com reves-
das camadas de cima
para baixo: Pt/Sn/Ni/
pasta Ag. (Instituto de
Pesquisa de Materiais
MPA da Universidade
de Stuttgart).
timentos de ligas sobre Wafers, passando para aços de uso na
medicina, gotas de solda e finalizando com arames revestidos.
Deste modo não somente se aprimora a qualidade como se
assegura a maior competitividade no mercado. Dr. Jörg Leske
«aplicação prática»
AFM – Ponto para a medição da Microdureza
Tratamento
dos sinais
Fotodiodo
Elemento
piezoelétrico
Laser
Cantilever com ponta
Superfície da amostra
Figura 1: O Microscópio de Força Atômica (AFM) amplia a área de emprego da
Figura 2: Esquema básico de um Microscópio de Força Atômica (AFM).
medição da microdureza.
O Cantilever percorre a superfície do diamante.
Um Microscópio de Força Atômica (AFM: «atomic force microscope») pode complementar o ensaio de Microdureza especialmente
na área de camadas delgadas e de forças pequenas. Ao contrário
do microscópio de luz, o AFM segue o contorno da superfície da
amostra. Para tanto utiliza-se uma pequena alavanca – o Cantilever
– dotada de uma ponta de Silício extremamente fina para medir
variações de altura. Pode-se medir cavidades, ou impressões, e assim obter mais informações a respeito das deformações ocorridas,
assim como se pode determinar outras propriedades do material
(veja na Figura 2). A varredura (scan) de uma superfície com um
AFM em geral é apenas a primeira etapa; em seguida o resultado
deverá ser interpretado e, eventualmente, os parâmetros de medição deverão ser adaptados a fim de se obter um resultado expressivo e confiável.
na medição da microdureza, onde se compreende os seus princípios em tempo relativamente curto, no caso do AFM uma iniciação
mais demorada se torna necessária. Porém, uma vez vencida esta
barreira, são abertas novas possibilidades para a análise de amostras. Após uma medição geral, superficial, da amostra tem início a
análise propriamente dita com a juda de parâmetros de medição
otimizados e a interpretação dos resultados.
Estudando melhor o funcionamento do AFM, obtém-se uma maior
compreensão e, com a aquisição de mais experiência, encontra-se
com maior facilidade os parâmetros que regerão uma tarefa de
medição. Percebe-se neste caso que , ao contrário do que ocorre
Serão descritas aqui algumas possibilidades para se observar uma
superfície e para se obter informações adicionais a partir das medições.
Para tanto, neste exemplo não será analisada uma impressão obtida, mas sim a ponta de diamante de um penetrador (Figura 3). Na
primeira etapa a ponta é medida, a área de medição do AFM corresponde aproximadamente ao círculo na Figura 3. Percebe-se que
com o AFM é possível obter uma resolução nitidamente melhor do
que aquela obtida com o microscópio de luz. Uma área de poucos
micrometros quadrados revela o setor «interessante» do penetra-
FISCHERSCOPE®
N o . 10
Figura3: Foto da ponta
de um penetrador
Berkovich.
Figura 5: Seção através da ponta do penetrador.
dor, que possui a maior influência nos resultados de uma medição
de microdureza devido ao arredondamento da sua ponta.
frequência pré-selecionada. Ao entrar em contato com um material, os extremos da vibração se deslocam como consequência das
características daquele.
A Figura 4 mostra as três faces da ponta de um penetrador Berkovich, reconhecendo-se claramente o declive das faces laterais. Para
conhecer melhor este declive, executou-se novamente uma seção
através da ponta (Figura 5). A diferença nas declividades é o resultado, já que a linha segue uma vez ao longo da aresta da face lateral do penetrador e outra vez diretamente sobre a face lateral.
Através da representação de sombras consegue-se visualizar melhor estruturas muito delicadas. Tal fato é comprovado na Figura 6
Figura 6: Resultado da medi-
Figura 7: Medição de fase na face lateral de
ção pelo AFM com sombras
um penetrador.
para a representação de
detalhes.
Figura 4: Medição de
uma ponta Berkovich
com a ajuda do AFM.
com o exemplo de um penetrador Vickers. Mesmo pequenas sujidades na ponta, que poderiam ter influência no resultado e que
por isso deveriam ser eliminados, podem ser perfeitamente visualizadas nesta apresentação.
A Figura 7 mostra uma medição na face lateral de um penetrador.
Aqui não se acham representadas diferenças na altura, porém a
fase: o Cantilever AFM com a sua ponta de medição vibra com uma
Na Figura 7 é possível reconhecer, por exemplo com base na superfície escura, pequenas diferenças na medição da fase. No caso
de um diamante natural estas poderiam ser, por exemplo, inclusões de outros minerais. Isto é típico para diamantes naturais que,
devido à sua dureza elevada, são empregados na ponta do penetrador.
As medições apresentadas são apenas uma parte das possibilidades oferecidas por um AFM. O emprego deste método pressupõe
uma certa experiência e requer uma interpretação diferenciada
dos resultados. Dr. Tanja Haas
«aplicação prática»
Medição do teor de Ferrita em instalações Offshore
Figura 1: Jogo normal de
padrões de calibragem
FISCHER, rastreáveis ao TWI,
GB (nas unidades FN).
N o . 1 0 Na área das indústrias de petróleo e gás é usual o transporte de
líquidos ou de gases por meio de Pipelines submersas a partir
das plataformas de perfuração bem equipadas, muitas vezes sob
condições de risco. Para possibilitar estas modernas técnicas
de produção é requerida a utilização das mais modernas ligas
metálicas, que apresentem excelentes propriedades metalúrgicas
como: resistência, imunidade à corrosão, imunidade contra corrosão sob tensão em ambiente com cloretos. Porém, estas ligas
também deveriam exigir um trabalho de manutenção relativamente reduzido.
FISCHERSCOPE®
Esta versatilidade pôde ser
comprovada por diversos
operadores de plataformas
Offshore. Alguns usuários
exigiram o emprego de padrões próprios para efetuar a
calibragem, assegurando assim uma comprovação da calibragem de acordo com os
regulamentos da empresa.
Estes padrões de calibragem
próprios normalmente consistem em trechos de tubos
Figura 3: Medições em uma solda em
de aço inoxidável, que postubo por meio da sonda de medição
suem os diâmetros usualFGAB 1.3–Fe.
mente empregados. O teor
de ferrita destes trechos de
tubos foi determinado e certificado pelo cliente através de um método destrutivo (a metalografia). No caso de aços Duplex o teor de
Ferrita varia entre 50% e 60%.
Com este procedimento o usuário desfruta da vantagem de incluir
na calibragem o efeito da curvatura do trecho de tubo em questão,
Se o usuário do aparelho tivesse efetuado a calibração utilizando o
jogo de padrões planos FISCHER, então deveria corrigir o valor medido de Ferrita de acordo com o diâmetro do tubo em questão.
Figura 2: O aparelho FERITSCOPE® FMP30.
Dois grandes grupos de tipos de ligas atendem a todas estas exigências: os grupos das ligas de aços austeníticos assim como dos
aços inoxidáveis Duplex. Ainda que estes tipos de aços apresentem
estas boas propriedades, o seu desempenho é bastante afetado
pelo teor de Ferrita. Um teor reduzido de Ferrita pode resultar na
formação de trincas por aquecimento durante soldagens; por outro lado, um teor elevado de Ferrita pode resultar em alterações
indesejadas da ductilidade, da capacidade de carregamento ou da
resistência à corrosão.
A empresa Helmut Fischer já detectou há muito tempo a necessidade de se criar sistemas móveis de medição nesta área. O aparelho FERITSCOPE® FMP30 atende a todos os requisitos de medição,
por exemplo a possibilidade de análises estatísticas, memorização
de dados, captação contínua dos dados de medição para a caracterização de soldas e para a remessa de dados a um PC. O aparelho
mede o teor de Ferrita em aços austeníticos e Duplex por meio do
método magneto-indutivo. São analisados todos os componentes
magnetizáveis da estrutura metalúrgica, ou seja, além da Ferrita
Delta também, por exemplo, a Martensita de deformação e outras
fases ferríticas.
Pode-se efetuar uma calibragem Master com a ajuda do jogo de
padrões de calibragem FISCHER (Figura 2). Estes padrões são rastreáveis ao The Welding Institute (TWI), GB, na unidade FN (Número de Ferrita). Acham-se à disposição padrões na faixa de 0,4 até
110 FN (o que corresponde aproximadamente a 0,4% até 80% de
teor de Ferrita). Ou então são fabricados padrões de Ferrita de materiais fornecidos pelo cliente, que são adequados exatamente aos
requisitos das aplicações desejadas.
As medições para determinar o teor de Ferrita são efetuadas da
seguinte maneira em tubos: sobre o perímetro do tubo, em intervalos de 90º (portanto quatro medições no cordão de solda). O
valor médio destas quatro medições é reconhecido como um valor
típico do teor de Ferrita neste material. A Figura 3 mostra a execução de uma medição instantes antes de apoiar a sonda na solda do
tubo. À direita e à esquerda do cordão de solda também são controladas, com quatro medições no perímetro, de cada lado, as zonas de influência térmica (ZIT). Valores médios típicos para Ferrita
em um tubo de aço Duplex foram, por exemplo: na ZIT (à esquerda) 55,1%, na solda 42,3% e na ZIT (à direita) 57,1%, então com um
coeficiente de variação de aproximadamente 4%.
Diversos Planos de Garantia da Qualidade exigem, para tubos de
aço Super Duplex, um teor de Ferrita entre 35% e 65% tanto na
solda como nas ZIT adjacentes.
Os dados da calibragem assim como todas as informações sobre a
aplicação em questão são memorizadas no aparelho e podem ser
consultados a qualquer momento de modo simples e rápido. As
medições são efetuadas em poucos segundos; os resultados das
medições podem ser analisadas no aparelho mesmo ou então podem ser transferidas para um PC, para uma interpretação adicional
e para um armazenamento daqueles dados..
Os nossos clientes na Grã-Bretanha decidiram adquirir, e utilizar, o FISCHER FERITSCOPE® FMP30, pois com a ajuda deste
conseguem determinar de maneira simples, rápida e precisa,
tanto no cordão de solda como nas ZIT, o teor de Ferrita (faixa
de medição 0,1% até 80% de Ferrita). Um segundo motivo importante para a aquisição foi a possibilidade de se poder empregar os padrões de calibragem próprios, específicos para
cada tarefa. Alun Lewis BSc
Fischer Instrumentation (GB) Ltd
FISCHERSCOPE®
N o . 10
«aplicação prática»
Atividades FISCHER na elaboração
de normas industriais para PCBs
n
Au 1 [nm]
1
2
3
4
5
6
20
21
22
23
24
25
48.5
48.7
48.6
48.8
49.0
...
Pd 2 [nm]
97.9
98.6
99.0
100.1
100.1
...
Ni 3 [nm]
4375
4381
4383
4392
4388
...
49.1
49.3
48.5
48.4
49.2
49.1
100.4
100.5
100.0
99.0
98.5
98.0
4395
4390
4395
4383
4389
4385
Tabela 1a: Valores das medições obtidas em um padrão de calibragem FISCHER
(medidos com a ajuda de um FISCHERSCOPE® XDV®-SDD).
Como uma empresa atuante em nível mundial e líder no mercado
de aparelhos para a medição da espessura de camadas, a FISCHER
participa ativamente de comitês de organizações industriais e de
associações para normalização. Uma destas organizações industriais assessoradas pela FISCHER, é a Associação IPC-Association
Connecting Electronics Industries®. A IPC elabora importantes normas para os seus mais de 3.100 associados no mundo todo, no
ramo da Eletrônica.
Uma importante mensagem que, como uma empresa parceira, colocamos diariamente à disposição dos nossos clientes, é sobre
como é possível medir corretamente em qualquer ambiente de
produção, com elevada precisão de repetibilidade e de maneira
reprodutível. Este é o nosso trabalho diário e também faz parte da
filosofia de nossa empresa.
Como especialistas no tema da medição de espessuras no setor da
Galvânica, estamos familiarizados com os desafios que as exigências
dos clientes nos apresentam. Nós detemos o conhecimento profissional que nos permite oferecer soluções exatas e satisfatórias.
Durante muitos anos muitos clientes FISCHER mediram revestimentos de Au/Ni/Cu sobre placas de circuitos impressos de maneira rotineira por meio de aparelhos dotados de tubos de contagem
proporcionais. A FISCHER foi a primeira empresa que introduziu
um fator de correção para Br em materiais para placas de circuitos
impresso, e que idealizou uma estabilidade contra a deriva em
seus aparelhos. Como a tendência neste ramo de atividade segue
na direção de sempre novos tipos de revestimentos, deseja-se
atingir a meta de uma maior confiabilidade, soldabilidade assim
como a adequação para a conexão de arames finos (Bondraht,
bondwires). Como fabricantes de aparelhos de medição podemos
prestar ajuda na solução destas demandas.
Alguns destes processos de revestimento são: Níquel Químico, Paládio Químico , delgados filmes de Ouro (aplicados sem a utilização
de corrente elétrica, ENEPIG). Trata-se de um beneficiamento superficial multifuncional, apropriado para soldagens assim como
para a conexão (bonding) de finos arames de Ouro, Alumínio e Cobre. A condição IPC Categoria 3 (capacidade mínima de armazenamento12 meses) é atendida e adequa-se a todas as aplicações em
componentes SMD, Híbridos e orifícios metalizados. A empresa FISCHER participa do Subcomitê 4-14 – Revestimentos – da IPC, que
elabora a especificação para a utilização de ENEPIG como um beneficiamento superficial de placas de circuitos impressos. A norma foi
publicada em Janeiro de 2013 e possui a identificação IPC 4556.
N o . 10
Neste caso, quais são as particularidades?
A norma especifica as espessuras de cada camada individual da seguinte maneira:
• Níquel Químico: 3 – 6 µm
• Paládio Químico: 50 – 300 nm
• Camada de Ouro aplicada sem o uso de corrente elétrica:
30 nm como mínimo
Devido aos revestimentos relativamente delgados deve-se prestar
a maior atenção ao Setup e à calibragem do aparelho. Para camadas tão finas já existe uma influência da placa de circuitos em si,
por exemplo devido a diversas subcamadas de Cobre. Além disto,
diferentes espessuras e composições da placa em si exercem, em
parte, fortes influências sobre a exatidão e sobre a precisão da repetibilidade dos valores medidos para Au e Pd. É possível imaginar
como poderá ser difícil conduzir um processo produtivo sofisticado que atenda à especificação IPC 4556 e, ao mesmo tempo, perAu 1 [nm]
48.92 nm
Pd 2 [nm]
99.68 nm
Ni 3 [nm]
4388.0 nm
Desvio
padrão
0.286 nm
0.837 nm
5.112 nm
Coef. de
variação (%)
0.59
0.84
0.12
Faixa
1.07 nm
3.14 nm
20.2 nm
Quantid. de
medições
25
25
25
48.4 nm
49.4 nm
97.9 nm
101.0 nm
120 seg
4375 nm
4396 nm
Valor médio
Mín
Máx
Tempo de medição
Tabela 1b: Avaliação dos valores medidos de acordo com a Tabela 1a.
mita produzir de modo eficiente com baixo custo (pela redução da
quantidade de material utilizado). A especificação da norma não
pode mais ser atendida por aparelhos dotados de um tubo de contagem proporcional. A FISCHER atende às características destas
tarefas de medição por meio do FISCHERSCOPE® XDV®-SDD. Este
modelo combina um projeto inteligente de Hardware com um moderno Software WinFTM®. Para garantir uma exatidão ótima a FISCHER desenvolveu padrões com três camadas: uma camada de
Ouro sobre uma camada de Paládio sobre uma lâmina de Níquel.
A norma IPC 4556 especifica a utilização de padrões com três camadas, devendo ser rastreáveis a um Laboratório Metrológico Nacional. Os padrões de calibragem Fischer (código 604-467) atendem totalmente aos requisitos da norma IPC 4556, que são
rastreáveis por meio de um Certificado DAkkS FISCHER, no espírito
acima mencionado. Adicionalmente, a norma entra em detalhes
quanto aos desafios que estas tarefas de medição oferecem e
orienta como se ajusta um aparelho de fluorescência de raios-X e
como se executa uma análise da capacidade dos meios de medição visando comprovar a adequação dos aparelhos ao processo.
Abaixo estão relacionados valores de medição típicos obtidos, que
foram gerados por um aparelho FISCHERSCOPE® XDV®-SDD corretamente calibrado: valores nominais do padrão utilizado, Au49nm/
Pd100nm/Ni4387nm.
Michael Haller M.Sc.
Fischer Technology, Inc., Windsor, USA
FISCHERSCOPE®
«aplicação prática»
FISCHER expande continuamente a sua
rede mundial de vendas
O treinamento dos novos colaboradores da FISCHER é também
um aspecto relevante para podermos assegurar uma assistência
de elevada qualidade. Já que, somente quem sabe medir corretamente, não irá fazer bobagens!
Figura 1: Inauguração Fischer India.
Após a fundação de filiais próprias na Malásia, na Indonésia e na
Coréia nos últimos três anos, a empresa FISCHER deu mais um
importante passo na expansão de sua rede de vendas na Ásia:
Fischer Thailand com sede em Bangkok será de agora em diante
responsável pelo desenvolvimento deste enorme mercado.
E a expansão prossegue: ainda neste ano será aberto um escritório
em Dubai e, no início de 2015, a filial Fischer Taiwan passará a
operar!
Quem quiser ter sucesso em um mercado globalizado precisa conhecer bem as exigências e os anseios de seus clientes. Por isso, a
FISCHER se entende como um parceiro de seus clientes e se dedica
com afinco a prestar um aconselhamento competente e a manter
um estreito contato com os mesmos. De acordo com esta expectativa quanto à qualidade e quanto à satisfação, desde o início dos
anos 90 a empresa FISCHER é certificada de acordo com a norma
DIN EN ISO 9001, como uma das primeiras empresas na Suiça . Todas as filiais se encontram igualmente certificadas de acordo com
esta norma e são auditadas periodicamente.
FISCHERSCOPE®
Com investimentos nos
setores de Laboratório de
Aplicações, Vendas, Assistência Técnica e Marketing, assim como com novas,
respectivamente
ampliadas, dependências
em Hünenberg, Índia,
China (Shanghai, Xian,
Xiamen e Chengdu), Sin- Figura 2: Inauguração Fischer Tailândia.
gapura, Espanha, França
e Itália, foram tomadas importantes decisões nestes últimos anos.
Principalmente nos crescentes mercados na China e na Índia
estamos instalando continuamente novos pontos de venda e de
Assistência Técnica, a fim de estarmos ainda mais próximos dos
clientes nestes mercados geograficamente bastante extensos. A
Helmut Fischer AG na Suiça mostrou que, com um crescimento de
30% no número de colaboradores nos últimos 7 anos, se encontra
preparada para enfrentar novos desafios em um futuro bastante
promissor, a nível mundial.
Estamos olhando firmemente em frente a fim de, também no futuro, poder corresponder, e mesmo superar, de maneira eficiente
às expectativas de nossos clientes no mundo todo.
FISCHER DO BRASIL
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