Der etwas andere Flying-Probe-Tester

TEST & QUALITÄTSSICHERUNG
Universelle Systeme mittels Kombination
Der etwas andere
Flying-Probe-Tester
Hans Baka, Digitaltest, Stutensee-Blankenloch
Damit die Produktion bei den immer kürzeren
Produktzyklen schnell auf neue Entwicklungen
oder Produktänderungen reagieren kann, müssen die Zeiten für die Entwicklung und das Debugging von Testprogrammen möglichst kurz
sein. Besonders hier bietet der Flying-Prober entscheidende Vorteile gegenüber anderen Testverfahren. Allerdings werden diese Vorteile beim
klassischen Flying-Prober auf Grund der eingeschränkten Fehlerabdeckung und der langen
Testzeiten relativiert.
Normalerweise wird der klassische Flying-Prober
nur für den Test von Musterserien eingesetzt, da
sich so gegenüber einem In-Circuit-Test der Bau
eines Testadapters vermeiden lässt. Hat sich das
Layout der zu testenden Baugruppe stabilisiert
und steigen die Stückzahlen, dann muss in der
Regel auf ein schnelleres und leistungsfähigeres
Testverfahren umgestiegen werden. Der Grund
für diese eingeschränkten Nutzungsmöglichkeiten des Testers liegt in der geringen Testtiefe
und in den langen Testzeiten, die einen Einsatz
für größere Stückzahlen unmöglich oder nicht
wirtschaftlich erscheinen lassen. Die meisten
klassischen Flying-Prober decken zudem nur einen rein analogen In-Circuit Test ab. Auch das
manuelle Be-und Entladen der Prüflinge ist nicht
gerade ideal für einen Serientest. Dagegen ist
der Flying-Prober wegen der kurzen Vorlaufzeiten ideal für einen Test von Prototypen und
Kleinserien geeignet. Diese Systeme erlauben eine schnelle und einfache Programmerstellung
und verzichten auf einen Testadapter.
Ein universelles Testsystem, welches als eine Kombination zwischen Paralleltester und Flying-Prober
mit Funktionstest-Eigenschaften genutzt werden
kann, war gefragt. Zudem sollte sich das System
durch eine integrierte Bandzuführung auch in eine
automatische Fertigungslinie einbinden lassen sowie Magazine automatisch be- und entladen können. Damit ergeben sich zwei unterschiedliche Ansätze für den Einsatz eines derartigen Systems: Als
klassischer Flying-Prober für Musterserien oder als
Kombitester für mittlere bis große Stückzahlen.
Echter Multimode-Tester
Mit dem MTS500 Condor hat Digitaltest diesen
Spagat zwischen klassischem Flying-Prober und
Kombinationstester geschafft. Das System kombiniert einen In-Circuit- und Funktionstest und lässt
sich zudem mit Möglichkeiten für einen Boundary
EPP NOVEMBER/DEZEMBER 2006
Der Flying-Probe-Tester
MTS500 Condor
Scan- und Vision-Test ausstatten. Je nach Testanforderung lassen sich damit unterschiedlichste
Testverfahren kombinieren. Um die Testzeiten besonders beim Flying-Prober zu reduzieren, können
mittels Magnetic-Probes oder preiswerter Adaptionskonzepte zusätzlich häufig genutzte Punkte
dauerhaft von unten kontaktiert werden. Um auch
spezielle Funktionstests durchführen zu können,
lassen sich auch externe IEEE- oder VXI-Geräte in
das System einbinden. Alle nicht elektrisch testbaren Bauteile können schließlich mittels einer optischen Inspektion über die integrierte CCD-Kamera
überprüft werden, so dass eine maximale Fehlerabdeckung erreicht wird.
Eine weitere Reduzierung der Testzeiten ist teilweise durch den parallelen Einsatz unterschiedlicher Testverfahren möglich, Entlastung bringt zudem das automatische Be- und Entladen der Baugruppen mit selbstständiger Bandbreitenverstellung, was auch eine Integration in vollautomatische Fertigungslinien erlaubt.
Umfassende Unterstützung
bei der Testerstellung
Die Systemsoftware erlaubt eine schnelle Prüfprogrammerstellung auf der Basis von CAD-Daten
und Stücklisten, wobei auch eine Offline-Simulation, Mehrfachnutzen und Board-Versionen unterstützt werden. Über 64 CAD-Interfaces garantieren dabei eine optimale Übernahme und Aufbereitung der Daten für Design Check, Adaptererstellung und Programmerstellung. Damit können die
Daten für den Test und den Adapter noch vor den
ersten Musterbaugruppen fertig gestellt werden.
Unterstützt wird dabei auch die Programmierung
von Bausteinen während des Tests.
Mittels automatischer Debug-Hilfe, die ein einfaches Variieren von Stimulus-Parametern und
Kopfzuordnungen erlauben, wird der Aufwand
für das Debugging des Testprogramms deutlich
reduziert. Inkrementelle Programmänderungen
lassen sich zudem nach dem Debugging des Testprogramms durchführen, ohne dass bei jeder Änderung ein komplett neuer Lauf des Programmgenerators erforderlich ist. Somit sind schnelle Änderungen von Programmen und stabile lauffähige
Programme innerhalb weniger Stunden möglich.
Auch für die Erstellung von Funktionstests stehen
Menüs und Programmierhilfen zur Verfügung,
wobei eine Programmierung auf Hochsprachenlevel sowie IEEE- und VXI- Erweiterung die notwendige Flexibilität bieten.
Eine zusätzliche Unterstützung bei der Programmerstellung, aber auch später bei der Fehlerdiagnose und Reparatur am System bieten die
verschiedenen grafischen Tools, wie für Layout,
Stromlaufplan, Nadelplan, Nadelpositionen,
Stückliste, Netzliste und Bauteildatenblätter. Ergänzt wird dies durch die integrierte Online-Statistik, die eine einfache Überprüfung der Programmqualität und Stabilität sowie das Erkennen von Serienfehlern erlaubt.
electronica, Stand A1.620
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